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1

端子間電壓試驗

（例行試驗）

差異

9.1

9.1

新標(biāo)準(zhǔn)：

增加：

“試驗前后應(yīng)測量電容。”

刪除：

“注2：只要電容偏差仍然滿足要求，且每一單元中動作的熔絲不超過兩根，則內(nèi)部元件熔絲動作是允許的。”

在7電容策略和容量計算中：

“電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗（見第9章）之后進(jìn)行?！?/span>

舊標(biāo)準(zhǔn)：

在7電容策略和容量計算中：

“電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗（見第9章）之后進(jìn)行?！?/span>

因為舊標(biāo)準(zhǔn)中要求在此試驗后進(jìn)行電容測量，而新標(biāo)準(zhǔn)雖然要求在此試驗前后測量電容，但是沒有對試驗前后電容變化作出要求，所以可以不補(bǔ)做此項試驗。

2

端子間電壓試驗

（型式試驗）

差異

9.2

9.2

新標(biāo)準(zhǔn)：

增加：

“試驗前后應(yīng)測量電容?！?/span>

刪除：

“注2：只要電容偏差仍然滿足要求，且每一單元中動作的熔絲不超過兩根，則內(nèi)部元件熔絲動作是允許的?！?/span>

在7電容策略和容量計算中：

“電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗（見第9章）之后進(jìn)行?！?/span>

舊標(biāo)準(zhǔn)：

在7電容策略和容量計算中：

“電容測量應(yīng)在端子間電壓試驗（見第9章）之后進(jìn)行?！?/span>

因為舊標(biāo)準(zhǔn)中要求在此試驗后進(jìn)行電容測量，而新標(biāo)準(zhǔn)雖然要求在此試驗前后測量電容，但是沒有對試驗前后電容變化作出要求，所以可以不補(bǔ)做此項試驗。

3

熱穩(wěn)定性試驗

差異

13

13

新標(biāo)準(zhǔn)：

 “單元之間的間距應(yīng)等于制造方說明書中規(guī)定的正常間距?！?/span>

“試驗應(yīng)在滿足下列兩種情況中的一種后停止：

——在6h期間，電容器外殼從底部向上2/3高度處（不包括端子）測得的溫度的變化不大于1℃。在這種情況下試驗被認(rèn)為是有效的。

——如果在連續(xù)的3個6h期間溫度的增加沒有減少，在這種情況下試驗被認(rèn)為是失敗的?！?/span>

舊標(biāo)準(zhǔn)：

“單元之間的間距應(yīng)小于等于規(guī)定間距?！?/span>

“最后6h內(nèi)，應(yīng)測量外殼接近頂部處的溫度至少4次，在此6h內(nèi)，溫升的增加應(yīng)不大于1℃”

溫升測量位置變化,

需做差異試驗

4

端子與外殼間雷電沖擊電壓試驗

差異

15

15

新標(biāo)準(zhǔn)：“僅對所有端子均與外殼絕緣的單元進(jìn)行本試驗?！?/span>

舊標(biāo)準(zhǔn)：“僅對全部端子均與外殼絕緣并擬在戶外安裝的單元進(jìn)行本試驗。”

對全部端子均與外殼絕緣并擬在戶內(nèi)安裝的單元，應(yīng)補(bǔ)做試驗。

1

自愈性試驗  

差異

18

18

新標(biāo)準(zhǔn)：

 “電容器或元件應(yīng)承受歷時10s的2.15U_N的交流電壓或是3.04U_N的直流電壓（2.15U_N的交流峰值電壓）。”

“直到從試驗開始起發(fā)生5次自愈或直到電壓達(dá)到交流：3.5U_N或直流：4.95U_N為止?！?/span>

“當(dāng)電壓達(dá)到上述電壓限值并歷時10s后，如果發(fā)生的自愈數(shù)仍少于5次，但只要發(fā)生了一次自愈，應(yīng)結(jié)束試驗。

如果沒有發(fā)生自愈，應(yīng)繼續(xù)試驗直到獲得至少一次自愈或中斷試驗而對另一相同單元或元件重新試驗，由制造方選擇具體方案?！?/span>

“試驗前后應(yīng)測量電容和tanδ。

電容變化應(yīng)小于0.5%。

并附有tanδ計算公式?！?/span>

舊標(biāo)準(zhǔn)：

 “電容器或元件應(yīng)承受2.15U_N的交流電壓歷時10s?！?/span>

“直到從試驗開始起發(fā)生5次擊穿或直到電壓達(dá)到3.5U_N為止。”

“如果電壓達(dá)到3.5U_N時，發(fā)生的擊穿數(shù)仍少于5次，則可延續(xù)試驗時間直到獲得5次擊穿為止，或中斷試驗而對另一相同單元或元件重新試驗，由制造廠選擇?！?/span>

“試驗前后應(yīng)測量電容，其值不得有顯著變化?！?/span>

試驗后，驗證方法改變，應(yīng)補(bǔ)做試驗