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關(guān)于批準(zhǔn)發(fā)布《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法》等20項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的公告
發(fā)表時(shí)間:2019-01-24 16:00:31

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國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)批準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法》等20項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)予以公布(見(jiàn)附件)。

國(guó)家質(zhì)檢總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委
2018年3月15日

序號(hào)

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)

標(biāo)準(zhǔn)名稱

代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

實(shí)施日期

1

GB/T 4377-2018

半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法

GB/T 4377-1996

2018-08-01

2

GB/T 14028-2018

半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法

GB/T 14028-1992

2018-08-01

3

GB/T 35001-2018

微波電路 噪聲源測(cè)試方法


2018-08-01

4

GB/T 35002-2018

微波電路 頻率源測(cè)試方法


2018-08-01

5

GB/T 35003-2018

非易失性存儲(chǔ)器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn)方法


2018-08-01

6

GB/T 35004-2018

數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范


2018-08-01

7

GB/T 35005-2018

集成電路倒裝焊試驗(yàn)方法


2018-08-01

8

GB/T 35006-2018

半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法


2018-08-01

9

GB/T 35007-2018

半導(dǎo)體集成電路 低電壓差分信號(hào)電路測(cè)試方法


2018-08-01

10

GB/T 35008-2018

串行NOR型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范


2018-08-01

11

GB/T 35009-2018

串行NAND型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范


2018-08-01

12

GB/T 35010.1-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第1部分:采購(gòu)和使用要求


2018-08-01

13

GB/T 35010.2-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第2部分:數(shù)據(jù)交換格式


2018-08-01

14

GB/T 35010.3-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第3部分:操作、包裝和貯存指南


2018-08-01

15

GB/T 35010.4-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第4部分:芯片使用者和供應(yīng)商要求


2018-08-01

16

GB/T 35010.5-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第5部分:電學(xué)仿真要求


2018-08-01

17

GB/T 35010.6-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第6部分:熱仿真要求


2018-08-01

18

GB/T 35010.7-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第7部分:數(shù)據(jù)交換的XML格式


2018-08-01

19

GB/T 35010.8-2018

半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第8部分:數(shù)據(jù)交換的EXPRESS格式


2018-08-01

20

GB/T 35011-2018

微波電路 壓控振蕩器測(cè)試方法


2018-08-01