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國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)批準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法》等20項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)予以公布(見(jiàn)附件)。
國(guó)家質(zhì)檢總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)委
2018年3月15日
序號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào) | 實(shí)施日期 |
1 | GB/T 4377-2018 | 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法 | GB/T 4377-1996 | 2018-08-01 |
2 | GB/T 14028-2018 | 半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 | GB/T 14028-1992 | 2018-08-01 |
3 | GB/T 35001-2018 | 微波電路 噪聲源測(cè)試方法 | 2018-08-01 | |
4 | GB/T 35002-2018 | 微波電路 頻率源測(cè)試方法 | 2018-08-01 | |
5 | GB/T 35003-2018 | 非易失性存儲(chǔ)器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn)方法 | 2018-08-01 | |
6 | GB/T 35004-2018 | 數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范 | 2018-08-01 | |
7 | GB/T 35005-2018 | 集成電路倒裝焊試驗(yàn)方法 | 2018-08-01 | |
8 | GB/T 35006-2018 | 半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法 | 2018-08-01 | |
9 | GB/T 35007-2018 | 半導(dǎo)體集成電路 低電壓差分信號(hào)電路測(cè)試方法 | 2018-08-01 | |
10 | GB/T 35008-2018 | 串行NOR型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范 | 2018-08-01 | |
11 | GB/T 35009-2018 | 串行NAND型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范 | 2018-08-01 | |
12 | GB/T 35010.1-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第1部分:采購(gòu)和使用要求 | 2018-08-01 | |
13 | GB/T 35010.2-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第2部分:數(shù)據(jù)交換格式 | 2018-08-01 | |
14 | GB/T 35010.3-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第3部分:操作、包裝和貯存指南 | 2018-08-01 | |
15 | GB/T 35010.4-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第4部分:芯片使用者和供應(yīng)商要求 | 2018-08-01 | |
16 | GB/T 35010.5-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第5部分:電學(xué)仿真要求 | 2018-08-01 | |
17 | GB/T 35010.6-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第6部分:熱仿真要求 | 2018-08-01 | |
18 | GB/T 35010.7-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第7部分:數(shù)據(jù)交換的XML格式 | 2018-08-01 | |
19 | GB/T 35010.8-2018 | 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第8部分:數(shù)據(jù)交換的EXPRESS格式 | 2018-08-01 | |
20 | GB/T 35011-2018 | 微波電路 壓控振蕩器測(cè)試方法 | 2018-08-01 |