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IEC 60068-2-1低溫測(cè)試
發(fā)表時(shí)間:2021-11-01 17:22:46

IEC 60068-2-1詳細(xì)說(shuō)明了適用于非散熱和散熱樣品的低溫測(cè)試。僅當(dāng)在自由空氣條件下(即低空氣速度循環(huán))測(cè)量的樣品表面上的最熱點(diǎn)達(dá)到溫度穩(wěn)定后,比周?chē)髿獾沫h(huán)境溫度高出 5K 以上,才認(rèn)為該樣品具有散熱性。



IEC 60068-2-1低溫測(cè)試的目的


IEC 60068-2-1低溫測(cè)試的目的是確定組件、設(shè)備或其他物品在低溫下使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力。本標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的低溫測(cè)試無(wú)法評(píng)估樣品在溫度變化期間承受或操作的能力。在這種情況下,有必要使用 IEC 60068-2-14。


IEC 60068-2-1低溫測(cè)試分類(lèi)


該測(cè)試旨在確定設(shè)備或組件在低溫下使用、儲(chǔ)存或運(yùn)輸?shù)哪芰?。該方法使用恒定的低溫條件。 


IEC 60068-2-1 中的測(cè)試細(xì)分如下:


非散熱試樣的低溫測(cè)試


1.隨著溫度的逐漸變化,Ab;


散熱試件的低溫測(cè)試


1.隨著溫度的逐漸變化,Ad,


2.隨著溫度的逐漸變化,樣品始終通電,Ae。


對(duì)于非散熱樣品,測(cè)試 Ab 和 Ad 與之前的問(wèn)題沒(méi)有本質(zhì)上的偏差。添加測(cè)試 Ae 主要是為了測(cè)試設(shè)備,這些設(shè)備需要在整個(gè)測(cè)試期間(包括調(diào)節(jié)期)保持運(yùn)行。


IEC 60068-2-1低溫測(cè)試能力


可靠性檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備低溫試驗(yàn)箱,具備以下低溫測(cè)試能力。


1. 容積≤1m3,-40℃ ~ 常溫;


2. 容積≤ 0.08m3,-70℃ ~ 常溫。