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高溫老化測(cè)試的原理和試驗(yàn)機(jī)
發(fā)表時(shí)間:2022-01-18 17:44:54

老化測(cè)試主要是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用過(guò)程中的各種惡劣條件的高強(qiáng)度測(cè)試,同時(shí)根據(jù)使用的要求,合理地預(yù)測(cè)產(chǎn)品使用壽命,高溫老化測(cè)試也就是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。


Delta德?tīng)査x器作為環(huán)境可靠性檢測(cè)設(shè)備的廠家,可提供高溫老化測(cè)試等環(huán)境可靠性檢測(cè)設(shè)備。設(shè)備廣泛應(yīng)用于從原材料、元器件級(jí)別,到電路板/模塊級(jí)別,到整機(jī)電子、電器、電力等產(chǎn)品進(jìn)行恒定溫度,恒定濕度,變化溫度,變化溫濕度,鹽霧試驗(yàn),混合氣體試驗(yàn),臭氧老化試驗(yàn),UV紫外線加速老化試驗(yàn),氙燈老化試驗(yàn),二氧化硫腐蝕試驗(yàn),高空低氣壓試驗(yàn),IPX1~X9防水等級(jí)試驗(yàn),防塵/砂塵試驗(yàn),跌落試驗(yàn),燃燒試驗(yàn),半正弦波/梯形波加速度沖擊試驗(yàn),正弦/隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn),碰撞模擬試驗(yàn),跌落試驗(yàn),拉伸強(qiáng)度試驗(yàn),疲勞試驗(yàn),地震試驗(yàn),高加速壽命老化及應(yīng)力篩選等機(jī)械、力學(xué)環(huán)境試驗(yàn),氣候環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目。


高溫老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。



高溫老化測(cè)試的目的

高溫老化測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器等)模擬高溫、惡劣環(huán)境的可靠性測(cè)試,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要手段、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。


高溫老化測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn)

1、升溫時(shí)間的測(cè)試

將溫度傳感器置于高溫老化試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)任意一點(diǎn),用全功率加熱,記錄工作室溫度從室溫升至第一次達(dá)到最高工作溫度的時(shí)間,其結(jié)果應(yīng)不超過(guò)120min。


2.表面溫度測(cè)試

在高溫老化試驗(yàn)箱工作溫度第一次達(dá)到最高工作溫度并穩(wěn)定2h后,用溫度計(jì)測(cè)試箱體表面的溫度,其最高工作溫度不超過(guò)200℃的試驗(yàn)箱,表面溫度應(yīng)不大于室溫加35℃;最高工作溫度超過(guò)200℃,表面溫度應(yīng)按式?jīng)Q定。


壓敏電阻老化測(cè)試


3.絕緣電阻測(cè)試

應(yīng)按GB998中第6.2條規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試,其結(jié)果應(yīng)符合電加熱器端子(包括引線)與控制系統(tǒng)開(kāi)路時(shí),對(duì)箱殼應(yīng)承受電壓1500V,交流50H,歷時(shí)1min的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn),其絕緣應(yīng)不被擊穿。


4、絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)

應(yīng)按GB998中第6.3條規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果符合電加熱器端子(包括引線)與控制系統(tǒng)開(kāi)路時(shí),對(duì)箱殼應(yīng)承受電壓1500V,交流50H,歷時(shí)lmin的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn),其絕緣應(yīng)不被擊穿。


5、噪聲測(cè)試

按ZBNG61012中規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試,其結(jié)果整機(jī)噪聲不高干70dB。

經(jīng)過(guò)特定的試驗(yàn)條件的高溫老化后,再對(duì)老化對(duì)象進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選、剔除變質(zhì)或失效的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之前。這種為提高電子電工產(chǎn)品可靠性和延長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命,對(duì)產(chǎn)品的穩(wěn)定性進(jìn)行必要的考核,以便剔除那些有“早逝”缺陷的潛在“個(gè)體”(元器件)確保整機(jī)品質(zhì)和期望壽命的工藝就是高溫老化的原理。