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電解電容器是電子工程技術(shù)和許多先進(jìn)設(shè)備中不可缺少或不可替代的電子元件,電解電容在使用前要進(jìn)行可靠性檢測(cè),以確保電解電容器在使用過(guò)程中使用壽命更長(zhǎng),與其他電子元件一起使用時(shí)更可靠、更穩(wěn)定。
電解電容可靠性測(cè)試,又稱(chēng)老化測(cè)試、壽命測(cè)試,包括多項(xiàng)測(cè)試內(nèi)容,接下來(lái)為大家介紹電解電容可靠性測(cè)試項(xiàng)目。
電解電容的可靠性測(cè)試項(xiàng)目
1、串聯(lián)電阻測(cè)試,絕緣電阻測(cè)試;
2、拉力測(cè)試,即引線(xiàn)與芯片焊接的牢固度;
3、正負(fù)溫變化率測(cè)試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
4、老化測(cè)試,電解電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天,測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化;
5、耐壓實(shí)驗(yàn),包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測(cè)試,電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
6、局放測(cè)試,即局部放電測(cè)試;
7、壽命測(cè)試,即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上,再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。
電解電容可靠性測(cè)試常用檢測(cè)方案
方案一:電解電容器的高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試,在此測(cè)試過(guò)程中,檢查電解電容參數(shù)的變化、衰減和丟失,以剔除不良電解電容。
方案二:電解電容器的使用壽命測(cè)試,電解電容器的壽命測(cè)試是在電解電容器老化測(cè)試的基礎(chǔ)上,在電解電容器的高頻沖壓電流下進(jìn)行快速充放電測(cè)試,得到的充放電次數(shù)是充放電壽命,但電解電容器的壽命是在電解電容器長(zhǎng)時(shí)間老化后得出的。同時(shí),每提高電解電容器的環(huán)境溫度10度,電解電容器的使用壽命就會(huì)下降一半。如果想讓電解電容器使用壽命長(zhǎng),就要保證環(huán)境溫度。