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電子元器件可靠性測試是為了評估電子元器件在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。電子元器件可靠性測試項(xiàng)目分為三類：電氣性能測試、零部件環(huán)境可靠性、零部件機(jī)械類可靠性。

電子元器件可靠性測試項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

1、電氣性能測試

擊穿電壓、介電強(qiáng)度

參考標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002

介電常數(shù)、介質(zhì)損耗

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11

體積電阻率、 表面電阻率

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14

耐電壓

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20C

接觸電阻

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06C

絕緣電阻

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21C

溫升

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-70B

2、零部件環(huán)境可靠性

鹽霧試驗(yàn)

防塵防水試驗(yàn)/IP等級

高溫試驗(yàn)

UV紫外光老化試驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)

快速溫度變化試驗(yàn)

交變濕熱試驗(yàn)

恒溫恒濕試驗(yàn)

氣體腐蝕試驗(yàn)

低氣壓試驗(yàn)

臭氧測試

高壓蒸煮（HAST）

氙燈老化/太陽輻射

3、零部件機(jī)械類可靠性

跌落試驗(yàn)

振動試驗(yàn)

沖擊和撞擊試驗(yàn)

插拔力測試

加速壽命試驗(yàn) HALT/HASS試驗(yàn)

碰撞試驗(yàn)

三綜合試驗(yàn)