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燈具為什么要做高低溫沖擊測(cè)試？

1. 燈具的塑膠外殼在承受高低溫沖擊時(shí)，LED塑膠外殼有脆化破壞的風(fēng)險(xiǎn)；

2. 燈管在溫度急劇變化情況下有燒壞的風(fēng)險(xiǎn)；

3. 照明燈的電路板芯片在冷熱沖擊環(huán)境下容易短路。

燈具高低溫沖擊測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫》 

GB/T 2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫》 

燈具高低溫沖擊測(cè)試能力

低溫只測(cè)：溫度范圍:-40℃ ~ 常溫, 容積≤1m3；溫度范圍: -70℃ ~ 常溫,容積≤ 0.08m3。

高溫只測(cè)：溫度范圍：常溫 ~ 500℃ , 容積≤0.08m3；溫度范圍：常溫 ~ 200℃ , 容積≤4.0m3。

燈具高低溫沖擊測(cè)試方法

把燈具放入最大Ta高溫箱內(nèi)3小時(shí)，取出停留2-3分鐘，再放入最小Ta低溫箱內(nèi)3小時(shí)，5個(gè)循環(huán)恢復(fù)常溫后，檢測(cè)燈具功能和性能是否良好，能否正常工作。